辐照试验试验条件：微电路的辐照试验主要有中子辐照和γ射线辐照两大类。又分总剂量辐照试验和剂量率辐照试验。剂量率辐照试验都是以脉冲的形式对披试微电路进行辐照的。在试验中要依据不同的微电路和不同的试验目的严格控制辐照的剂量串和总剂量。否则会由于辐照超过界限而损坏样品或得不到要寻求的闽值。辐照试验要有防止损伤的安全措施。
高温试验的试验条件：一般选定一恒定的温度应力和保持时间。微电路温度应力范围为75℃至400℃，试验时间为24h以上。试验前后被试样品要在标准试验环境中，既温度为25土10℃、气压为86kPa~100kPa的环境中放置一定时间。多数的情况下，要求试验后在规定的时间内完成终点测试。
任何与装备的故障、故障效应以及可靠度提升相关的测试或试验，都可以认为是一种可靠性试验。在装备的整个寿命周期内，其可靠性不仅受到设计、制造阶段的影响，也受到管理水平和试验能力约束。装备可靠性试验在保障装备的可靠性达到设计的可靠性要求过程中起到至关重要的作用。
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