AEC-Q104规范中，共分为A-H八大系列。其中，一大原则，在于MCM上使用的所有组件，包括电阻电容电感等被动组件、二极管离散组件、以及IC本身，在组合前若有通过AEC-Q100、AEC-Q101或AEC-Q200，MCM产品只需进行AEC-Q104H内仅7项的测试，包括4项可靠性测试:TCT(温度循环)、Drop(落下)、LowTemperatureStorage Life(LTSL)、Start Up &TemperatureSteps(STEP)；以及3项失效类检验:X-Ray、Acoustic Microscopy(AM)、DestructivePhysical(DPA)；若MCM上的组件未先通过AEC-Q100、AEC-Q101与AEC-Q200，那必须从AEC-Q104的A-H八大测项共49项目中，依据产品应用，决定验证项目，验证项目会变得比较多。
考虑MCM内部组件组成的复杂性，AEC-Q104在ESD测试项目上，其中人体放电模式(Human BodyModel，HBM)的*低要求规格，由AEC-Q100定义的2KV，下调至1KV；组件充电模式(Charged-DeviceModel，CDM)，在AEC-Q100中，CornerPin是750V，其他为500V，而在AEC-Q104上，则无论Pin Out位置，统一改为500V。
