镀层厚度和均匀性是镀层质量的关键标志。镀层薄层厚度测量方法分为破坏精度测量和无破坏精度测量两种。它属于破坏性**测量方法
1.库仑定律
库仑法称为电量法或阳极氧化熔融法。电解槽工作电压的大变化表明土层在本质上完全溶解。
该方法适用于单层和双层金属材料土层厚度的**测量，包括对Cu/Ni/Cr及其铝合金土层和细粒增强外扩散层等双层管理系统厚度的**测量。不仅可以精密测量涂料的类型有au、ag、zn、cu、ni、dni、cr。
共计
试验设备：电解厚度计
参考规范:GB/T4955,ISO2177,ASTMB504
2.金相分析
金相分析法是利用立体显微镜，根据测量部件的截面**测量金属涂层和金属氧化物土层的厚度。一般用于测量或检查涂层厚度和其他厚度。
GB/T12005-1998试验设备:体视显微镜
参考规范:GB/T6462,ISO1463,ASTMB487
3.x射线法
测量土层厚度的x射线光谱仪是基于一束明显和窄色x射线与常规和土层的相互作用。二次辐射产生的二次辐射源远离光波长和动能，二次辐射源具有形成土层和平原元素的特征。土层企业总面积质量（如果相对密度已知，则为线性厚度）与次辐射强度之间存在一定的相关性。首先用已知总面积质量的土量的土壤层标定模块进行校准。如果土层材料的相对密度已知，并且得到了相对密度，则规范块体可以得到土层厚度。
测试设备：X射线涂层厚度计
参考规范:gb/t16921,iso3497,astmb568
4.透射电子显微镜
透射电子显微镜（TEM）是基于激光从一定位置切割到试样的一块土壤层，试样经涂层、地面、抛光和腐蚀形成截面金相试样。
测试设备：扫描仪透射电子显微镜
参考规范:JB/T7503,ISO9220,ASTMB748