纯铜片电阻率标准规范工业测试

纯铜电阻率标准

在常温（20℃）时，铜的电阻率标准值为1.75×10⁻⁸Ω·m。电阻率ρ不仅和导体的材料有关，还和导体的温度有关。在温度变化不大的范围内，几乎所有金属的电阻率随温度作线性变化，即ρ= ρ₀(1 + αt)，式中t是摄氏温度，ρ₀是0℃时的电阻率，α是电阻率温度系数。每升高1℃，铜的电阻率大约增加0.0048Ω·cm。

深圳市华瑞测科技有限公司是一家面向全社会的公共性技术服务机构，拥有齐全的品牌材料分析精密测试仪器。公司主要检测项目包括铜片电阻率标准工业测试、表面形貌、成份、织构、薄膜厚度、表面粗糙度、孔隙率、硬度、薄膜结合力、摩擦磨损、应力、纺织、电化学与盐雾、腐蚀、颜色及色差等。涉及材料、物理、化学、精仪等诸多学科的技术人员多名。致力于材料的分析测试与合作研究，开展有关专业的技术咨询、新材料开发、技术规范和标准制定。深圳市华瑞测科技有限公司拥有CMA、CNAS资质、凭借其专业的技术团队、先进的检测设备和完善的服务体系、成重要的材料分析测试机构之一。

工业测试规范及方法

测试规范

工业上进行纯铜片电阻率测试需遵循相关标准，如STT赛特检测严格按照CNAS认可委的要求建设实验室，并依据ISO/IEC17025:2006进行实验室管理，遵循公正、科学、准确、高效的准则，依照IEC、ISO、IEEE、MIL、ASTM、J- STD、GJB、GB、SJ等国际、国内标准开展检测工作。也可按照GB/T351 -1995《金属材料电阻系数测量方法》测定。

测试方法

• 传统四端电阻法：通过测量电流和电压的比值来计算电阻率，该方法操作简便，但精度较低。在散热片专用纯铜电阻率检测中有所应用

• 阻抗分析法：江苏某电子科技有限公司采用此方法对散热片专用纯铜进行检测，能确保产品品质。

• 四探针法

• 原理：将四根排成一条直线的探针垂直地压在被测样品表面上，其中4探针间通以电流，3探针间产生电压。测量此电压并根据不同的测量方式和样品尺寸，可通过特定公式计算样品的电阻率、方块电阻、电阻等。通常采用四探针法测量膜电阻的方阻，计算公式为方块电阻（或表面电阻率）R= 532×V/I，其中，V是探针2 - 3间的电位差；I是探针1 - 4间的电流。

  高温环境应用：在高温环境下，可通过精密的四探针电阻率测试揭示纯铜材料的温变系数。测试过程中，样品置于高温炉中，配合温度传感器监测温度变化，高温四探针测试仪则负责在不同温度下测量其电阻率。

• 其他通用方法

• 直接测量法：准备规则形状（如长方体或圆柱体）的纯铜片样品，测量其尺寸，用电阻表或万用表测量电阻值，再根据电阻率定义公式计算。

• 比较测量法：选择已知电阻率的标准铜片样品，其尺寸和形状与待测样品相似，将二者串联或并联，用电阻表测电路电阻值，根据电阻串并联关系推导待测样品电阻值，Zui后计算电阻率，可减少直接测量的系统误差

• 间接测量法：通过测量纯铜片样品的其他物理量来间接计算其电阻率。

样品要求

对于纯铜片材，一般要求尺寸为150×30×5mm，而对于纯铜线材