薄膜厚度 - 经测试 | 30 | µm |
热性能 | 额定值 | 单位制 | 测试方法 |
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熔融温度 | 111 | °C | 内部方法 |
光学性能 | 额定值 | 单位制 | 测试方法 |
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光泽度 (30.0 µm) | 120 | ASTM D2457 | |
雾度 (30.0 µm) | 4.0 | % | ASTM D1003 |
补充信息 | 额定值 | 单位制 | 测试方法 |
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Blocking (30.0 µm) | 30.0 | g/100 cm² | ASTM D3354 |
Slip (30.0 µm) | 0.140 | Tan θ | 内部方法 |
挤出 | 额定值 | 单位制 | |
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料筒1区温度 | 130 | °C | |
料筒2区温度 | 145 | °C | |
料筒3区温度 | 155 | °C | |
熔体温度 | 160 | °C | |
口模温度 | 160 | °C |