辐照试验目的：考核微电路在高能粒子辐照环境下的工作能力。高能粒子进入微电路会使微观结构发生变化产生缺陷或产生附加电荷或电流。从而导致微电路参数退化、发生锁定、电路翻转或产生浪涌电流引起烧毁失效。辐照超过某一界限会使微电路产生性损伤。
可靠性试验常用检测标准：设备可靠性试验 可靠性测定试验的点估计和区间估计 方法 (指数分布) GB/T5080.4-1985；设备可靠性试验 第 4 部分：指数分布的统计程序—点 估计、置信区间、预测区间和公差区间 IEC 60605-4:1978；设备可靠性试验成功率的验证试验方案 GB/T 5080.5- 1985；设备可靠性试验 第 5部分：成功率的验证试验方案 IEC 60605-5:1982；
IK测试（外壳对外界机械碰撞的防护等级）IK代码IK code 代码表示外壳对外界有害机械碰撞的防护等级。标识表明外壳对外界机械碰撞的防护等级应用IK代码为特征数字组合(00至10)。IK准适用于额定电压不超过72. 5kV的电器设备外壳对外界机械碰撞的防护分级，仅适用于对外界机械碰撞防护分级有专门要求的外壳。检测标准：GB/T 20138-2006;IEC 62262: 2002EN 62262: 2002，冲击能量：5J，10J，20J；
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百格测试是什么意思