辐照试验试验条件：微电路的辐照试验主要有中子辐照和γ射线辐照两大类。又分总剂量辐照试验和剂量率辐照试验。剂量率辐照试验都是以脉冲的形式对披试微电路进行辐照的。在试验中要依据不同的微电路和不同的试验目的严格控制辐照的剂量串和总剂量。否则会由于辐照超过界限而损坏样品或得不到要寻求的闽值。辐照试验要有防止损伤的安全措施。
可靠性试验常用检测标准：设备可靠性试验 恒定失效率假设的有效性检验 GB/T 5080.6-1996；设备可靠性试验 第 6部分：恒定失效率或恒定失效强 度假设的有效性试验 IEC 60605-6:1989；设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案 GB/T 5080.7-1986；设备可靠性试验 第 7 部分：恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案 IEC 60605-7:1978；
可靠性试验常用检测标准：电子测量仪器通用规范 GB/T 6587-2012；计算机通用规范 第 1 部分：台式微型计算机 GB/T9813.1-2016；计算机通用规范 第 2 部分：便携式微型计算机 GB/T 9813.2-2016；计算机通用规范 第 3部分：服务器 GB/T 9813.3-2017；计算机通用规范 第 4 部分：工业应用微型计算机 GB/T9813.4-2017；
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