寿命试验:寿命试验是可靠性试验的一个极其重要的内容,通过这种试验,可以了解产品工作的寿命特征、失效规律,并算出产品失效率和平均寿命等可靠性指标。产品的寿命试验,按时间长短又可分为长期寿命试验和加速寿命试验。
辐照试验目的:考核微电路在高能粒子辐照环境下的工作能力。高能粒子进入微电路会使微观结构发生变化产生缺陷或产生附加电荷或电流。从而导致微电路参数退化、发生锁定、电路翻转或产生浪涌电流引起烧毁失效。辐照超过某一界限会使微电路产生性损伤。
可靠性试验常用检测标准:电子测量仪器通用规范 GB/T 6587-2012;计算机通用规范 第 1 部分:台式微型计算机 GB/T9813.1-2016;计算机通用规范 第 2 部分:便携式微型计算机 GB/T 9813.2-2016;计算机通用规范 第 3部分:服务器 GB/T 9813.3-2017;计算机通用规范 第 4 部分:工业应用微型计算机 GB/T9813.4-2017;
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