机械冲击试验：该试验目的是考核微电路承受机械冲击的能力。即考核微电路承受突然受力的能力。在装卸、运输、现场工作过程中会使微电路突然受力。如跌落、碰撞时微电路会受到突发的机械应力，这些应力可能引起微电路的芯片脱落、内引线开路、管壳变形、漏气等失效。
温度循环试验其控制原则是试验所要求的温度、时间和转换速率都是指被试产品，不是试验的局部环境。微电路的转换时间要求不大于1min在高温或低温状态下的保持时间要求不小于10min；低温为-55℃或-65-10℃，高温从85+10℃到300+10℃不等。
IK测试（外壳对外界机械碰撞的防护等级）IK代码IK code 代码表示外壳对外界有害机械碰撞的防护等级。标识表明外壳对外界机械碰撞的防护等级应用IK代码为特征数字组合(00至10)。IK准适用于额定电压不超过72. 5kV的电器设备外壳对外界机械碰撞的防护分级，仅适用于对外界机械碰撞防护分级有专门要求的外壳。检测标准：GB/T 20138-2006;IEC 62262: 2002EN 62262: 2002，冲击能量：5J，10J，20J；
气体腐蚀试验东莞检测机构，东莞市帝恩检测有限公司（简称“帝恩检测”），成立于2012年，是一家为全国客户提供仪器计量、产品检测、检测认证及技术培训为一体的高科技技术服务公司。帝恩检测总部位于东莞，是国家高新技术企业。公司计量检测实验室获得了合格评定国家认可委员会（CNAS）及市场监督管理局（CMA）资质认定。所出具的计量检测报告得到实验室认可合作组织ILAC成员国家和地区认可。
温度变化试验CNAS授权实验室