寿命试验目的:考核产品在规定的条件下，在全过程工作时间内的质量和可靠性。为了使试验结果有较好代表性，参试的样品要有足够的数量。试验条件:微电路的寿命试验分稳态寿命试验、间歇寿命试验和模拟寿命试验。
低气压试验目的：考核产品对低气压工作环境(如高空工作环境)的适应能力。当气压减小时空气或绝缘材料的绝缘强度会减弱；易产生电晕放电、介质损耗增加、电离；气压减小使散热条件变差，会使元器件温度上升。这些因素都会使被试样品在低气压条件下丧失规定的功能，有时会产生性损伤。
IP后面的两位数字，表示该设备外壳对于固体异物和水侵入的防护强度，第1个数字表示电器设备防尘、防止外物侵入的等级，第2个数字表示设备防湿气、防水侵入的密闭程度，数字越大表示其防护等级越高。
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