HAST高度加速的温度和湿度压力测试(HAST)是一个高度加速，以温度和湿度为基础的电子元件可靠性试验方法。环境参数，HAST也称为压力测试(PCT)或不饱和压力试验(USPCT)其目的是评估测试样本，通过将试验室中的水蒸汽压力增加到定的耐湿性。比试样内部的部分水蒸汽压力高得多。这个过程暂时加速水分渗入样品中。
加速老化测试(HAST)原理
HAST，也称压力测试/PCT测试，不饱和压力试验/USPCT。主要通过改变温度、湿度、压力等基础参数，即高温、高压、高将水蒸气压力增加到一定程度，提高环境应力，加速产品老化，来评估电子元器件可靠性试验方法。
加速老化测试(HAST)应用领域
HAST老化测试广泛用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业相关之产品作加速老化寿命测试。加速寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷,等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验