镀层厚度检测丨电镀膜厚测试丨镀层分析
金相法：
采用金相显微镜检测横断面，以测量金属覆盖层、氧化膜层的局部厚度的方法。一般厚度检测需要大于1um，才能保证测量结果在误差范围之内；厚度越大，误差越小。
库仑法：
适合测量单层和多层金属覆盖层厚度阳极溶解库仑法，包括测量多层体系，如cu/ni/cr以及合金覆盖层和合金化扩散层的厚度。不仅可以测量平面试样的覆盖层厚度，还可以测量圆柱形和线材的覆盖层厚度，尤其适合测量多层镍镀层的金属及其电位差。测量镀层的种类为au、ag、zn、cu、ni、dni、cr。
x-ray方法：
适用于测定电镀及电子线路板等行业需要分析的金属覆盖层厚度。包括：金（au），银（ag），锡（sn），铜（cu），镍（ni），铬（cr）等金属元素厚度。
本测量方法可测量三层覆盖层体系，或测量三层组分的厚度和成分。
检测标准：1. gb/t金属和氧化物覆盖层 厚度测量 显微镜法
2. astm b487-85(2007) standard test method for measurement ofmetal and oxide coating thickness by microscopical examination of across section
3. astm b764-04 standard test method for simultaneous thicknessand electrode potential
determination of individual layers in multilayer nickel deposit(step test)
4. gb/t金属覆盖层 覆盖层厚度测量
5. gb/t金属覆盖层 覆盖层厚度测量 x射线光谱方法
6. astm b568-98(2004) standard test method for measurement ofcoating thickness by x-ray spectrometry
